产品资料

晶振测试仪

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产品名称: 晶振测试仪
产品型号: CX-117A
产品展商: 创鑫
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简单介绍

晶振测试仪 CX-117A是高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高,灵敏度高,速度快,闸门时间可选;具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能;中心频率(标称频率)F0、分档值Pr1 ~Pr8 (ppm) 、上限频率FU 、下限频率FL可任意设定并能存储。


晶振测试仪  的详细介绍

晶振测试仪
产品简介:
一、CX-117A是高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高,灵敏度高,速度快,闸门时间可选;具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能;中心频率(标称频率)F0、分档值Pr1 ~Pr8 (ppm) 、上限频率FU 、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。。
具有PPM测量功能,预置频率F0可任意设置。该功能特别适合于晶体振动器生产企业,测试结果显示直观。
主要功能:频率测量,PPM测量,周期测量,数据累计 ,功能设定
  

二、主要技术指标:
频率测量范围: 0.1Hz — 100MHz
频率测量灵敏度:30mv
PPm测量:3KHz — 100MHz
PPm测量精度:≤1 PPm (1×10-6)
(可扩展0.1PPm , 0.01 PPm)
中心频率:0 Hz — 100 MHz任意设定
误差设置范围设定:± 1 — ± 999 PPm任意设定。
闸门设置:四档 ,0.01s、 0.1s、1s三档固定,
1档闸门1ms — 10s可设,
每1mS为一阶梯任意设定。
周期测量范围:100 ms — 10 s
晶振稳定性:5 ×10-7 / 日
(可选 1 ×10-7/ 日,1 ×10-8 / 日)
时基频率:OCXO--10MC

三、特点:
微机控制,可编程器件开发, 模块化设计
100MHz同步等精度测量方式
SMT贴装生产、工艺,全新小型化结构设计
9位LED显示
PPm提示功能

四、可选配:
晶体测量匹配器:32.768KHz-20MHz 、20MHz-40MHz ,
40MHz-65MHz、65MHz-100MHz .
 


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